雷擊浪涌發(fā)生器實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)： (1)即使同樣做設(shè)備的 雷擊浪涌發(fā)生器抗擾度試驗(yàn)，不同的試驗(yàn)方法和試驗(yàn)?zāi)康?，所用的禍?去禍網(wǎng)絡(luò)參數(shù)是不同的。例如，用于電源線抗差模T.擾的試驗(yàn)，由于線路阻抗很低，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定其禍合電容用185F，發(fā)生器的內(nèi)阻用20，這代表了低電壓電源網(wǎng)絡(luò)的信號(hào)源差模阻抗。對(duì)抗共模干擾試驗(yàn)，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定要在發(fā)生器的輸出回路中串聯(lián)一個(gè)1x1)的電阻，把它作為低電壓電源網(wǎng)絡(luò)的信號(hào)源共模阻抗。對(duì)于其他一些試驗(yàn)，例如，信號(hào)線上的雷擊浪涌抗擾度試驗(yàn)，由于信號(hào)線阻抗比電源線要高出許多，因此發(fā)生器要附加一個(gè)400的串聯(lián)電阻，用以代表在其他線路上(除電源線外)的對(duì)地阻抗。 (2.)即使是同一個(gè)試驗(yàn)，在不同國(guó)家里，由于國(guó)情不同，標(biāo)準(zhǔn)的細(xì)節(jié)也不盡相同。例如，在電源線上做共模試驗(yàn)，美國(guó)考慮其低壓電網(wǎng)中線的接地情況不同，故標(biāo)準(zhǔn)(ANSI/IEEE C62.41)運(yùn)用時(shí)將上述10。串聯(lián)電阻取消了，它的禍合電路只有一個(gè)95F的電容(發(fā)生器的212輸出阻抗仍保留)。由于發(fā)生器的等效內(nèi)阻減小，因此，美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)的共模試驗(yàn)比我國(guó)的GB/T17626.5和的IEC61000-4-5標(biāo)準(zhǔn)要嚴(yán)格得多。 脈沖群發(fā)生器，對(duì)于多芯電纜的試驗(yàn)(例如6芯以上的電纜)在進(jìn)行射頻傳導(dǎo)干擾抗擾度試驗(yàn)時(shí)，采用禍合夾注入方式比較合適。標(biāo)準(zhǔn)中推薦的注入方式有電流夾和電磁禍合夾兩種。注意，在夾注入方式中，禍合和去禍功能是分開的，夾子僅僅提供禍合.而共模阻抗和去禍功能是建立在輔助設(shè)備上的，就如同輔助設(shè)備是禍合和去禍裝置的一部分。 變頻電流夾有較小的輸出阻抗，這是因?yàn)樗斜容^大的匝數(shù)比.例如，當(dāng)電流夾的匝數(shù)比為5:1時(shí)(夾上繞5匝，夾中心部分電纜一穿而過)，使試驗(yàn)發(fā)生器的輸出阻抗由5052變換成212。這樣，經(jīng)變換后的發(fā)生器輸出阻抗與試驗(yàn)系統(tǒng)所規(guī)定的1500共模阻抗相比可以不計(jì).電流夾的這一特點(diǎn)，使得試驗(yàn)系統(tǒng)中的共模阻抗和去禍功能要通過輔助設(shè)備方能實(shí)現(xiàn)。 試驗(yàn)時(shí)，為使測(cè)試的誤差為zui小，試驗(yàn)發(fā)生器的輸出電平是通過對(duì)Um『的設(shè)定來確定的，而不是直接對(duì)Ua來設(shè)定。 上述設(shè)定為未經(jīng)幅度調(diào)制的載波信號(hào)。LED靜電測(cè)試設(shè)定要在若干頻率點(diǎn)上進(jìn)行，一般每十個(gè)頻率點(diǎn)中至少要對(duì)一個(gè)頻率進(jìn)行設(shè)定和校正。 |
