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‖EMC電磁兼容測試設備

‖安規(guī)測試設備

‖*標GJB181A系列

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‖EMS測試附件

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產品圖片	產品名稱/型號	產品簡介
	ESD61002TA靜電放電發(fā)生器ESD61002TA	靜電放電發(fā)生器組合式抗擾度測試PRM61245系列是多功能組合抗擾度測試儀，包含靜電放電放電和電快速瞬變脈沖群、雷擊浪涌三項測試功能；產品符合IEC61000-2/4/5和GB/T17626.2/4.5等標準。
	PESD-20T1/PESD-30T1靜電放電發(fā)生器	PESD-20/30T1是針對電磁兼容—靜電放電（ESD）抗擾度實驗的要求而專門設計的，用于評估電氣和電子設備遭受直接來自操作者和對鄰近物體的靜電放電干擾時的性能提供一個評定依據(jù)
	ESD3015T智能半導體靜電放電發(fā)生器	智能半導體靜電放電發(fā)生器是專門為半導體器件及IC的抗靜電測試而設計，參照國家標準GJB548A-96方法3015、國家標準GJB128A-97方法1020、MIL-STD-883D、EIAJED-4701的測試要求。電腦控制，全部參數(shù)數(shù)字設定。輸出電壓精度高，性能穩(wěn)定，測試結果精確。
	ESD3015T工業(yè)半導體靜電放電發(fā)生器	工業(yè)半導體靜電放電發(fā)生器是專門為半導體器件及IC的抗靜電測試而設計。電腦控制，全部參數(shù)數(shù)字設定。輸出電壓精度高，性能穩(wěn)定，測試結果精確。
	ESD3015T多功能半導體靜電放電發(fā)生器	多功能半導體靜電放電發(fā)生器是專門為半導體器件及IC的抗靜電測試而設計，參照國家標準GJB548A-96方法3015、國家標準GJB128A-97方法1020、MIL-STD-883D、EIAJED-4701的測試要求。電腦控制，全部參數(shù)數(shù)字設定。輸出電壓精度高，性能穩(wěn)定，測試結果精確。
	ESD3015T半導體自動靜電放電發(fā)生器	半導體自動靜電放電發(fā)生器是專門為半導體器件及IC的抗靜電測試而設計，參照國家標準GJB548A-96方法3015、國家標準GJB128A-97方法1020、MIL-STD-883D、EIAJED-4701的測試要求。電腦控制，全部參數(shù)數(shù)字設定。輸出電壓精度高，性能穩(wěn)定，測試結果精確。
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